电阻或电阻率探测的因素影响

影响电阻或电阻率探测的主要因素有：

a.环境温湿度

一般材料的电阻值随环境温湿度的升高而减小。相对而言，表面电阻(率)对环境湿度比较敏感，而体电阻(率)则对温度较为敏感。湿度增加，表面泄漏增大，体电导电流也会增加。温度升高，载流子的运动速率加快，介质材料的吸收电流和电导电流会相应增加，据有关资料报道，一般介质在70C时的电阻值仅有20C时的10%。因此，测量材料的电阻时，非得指明试样与环境达到平衡的温湿度。

b.探测电压(电场强度)

介质材料的电阻(率)值一般不能在很宽的电压范围内保持不变，即欧姆定律对此并不适用。常温条件下，在较低的电压范围内，电导电流随外加电压的增加而线性增加，材料的电阻值保持不变。超过一定电压后，由于离子化运动加剧，电导电流的增加远比探测电压增加的快，材料呈现的电阻值迅速降低。由此可见，外加探测电压越高，材料的电阻值越低，以致在不同电压下探测得到的材料电阻值可能有较大的差别。

值得留意的是，导致材料电阻值变化的决定因素是探测时的电场强度，而不是探测电压。对相同的探测电压，若探测电极之间的距离不同，对材料电阻率的探测结果也将不同，正负电极之间的距离越小，探测值也越小。

c.探测时间

用一定的直流电压对被测材料加压时，被测材料上的电流不是瞬时达到稳定值的，而是有一衰减过程。在加压的同时，流过较大的充电电流，接着是比较长时间缓慢减小的吸收电流，最后达到比较平稳的电导电流。被测电阻值越高，达到平衡的时间则越长。因此，测量时为了正确读取被测电阻值，应在稳定后读取数值或取加压1分钟后的读数值。

另外，高绝缘材料的电阻值还与其带电的历史有关。为准确评价材料的静电性能，在对材料进行电阻(率)探测时，应首先对其进行消电解决，并静置一定的时间，静置时间可取5分钟，然后，再按测量程序探测。一般而言，对一种材料的探测，至少应随机抽取3～5个试样进行探测，以其均匀值作为探测结果。

d.探测设备的泄漏

在探测中，线路中绝缘电阻不高的连线，往往会不适当地与被探测样、取样电阻等并联，对测量结果可能带来较大的影响。为此：

为减小测量误差，应采用保护技术，在漏电流大的线路上安装保护导体，以基本消除杂散电流对探测结果的影响;

高电压线由于表面电离，对地有一定泄漏，所以尽量采用高绝缘、大线径的高压导线作为高压输出线并尽量缩短连线，减少尖端，杜绝电晕放电;

采用聚乙烯、聚四氟乙烯等绝缘材料制作探测台和支撑体，以避免由于该类原由导致探测值偏低。

e.外界干扰

高绝缘材料加上直流电压后，通过试样的电流是很微小的，极易受到外界干扰的影响，造成较大的探测误差。热电势、接触电势一般很小，可以忽略;电解电势主要是潮湿试样与不同金属接触萌生的，约莫惟有20mV，况且在静电探测中均要求相对湿度较低，在干燥环境中探测时，可以消除电解电势。因此，外界干扰主要是杂散电流的耦合或静电感应萌生的电势。在探测电流小于10-10A或测量电阻超过1011欧姆时;被探测样、探测电极和探测系统均应采取严格的屏蔽措施，消除外界干扰带来的影响。

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