影晌开关电源可靠性的因素

从各研究机构研究的成果可以看出，环境温度和负载率对可靠性的影响很大，这两个方面对开关电源由于有很大的影响，所以下面将从这两个方面分解要怎么样设计出高可靠的开关电源。其中，pD为使用功率；pR为额定功率。UD为使用电压；UR为额定电压。

1）环境温度对元器件的影响

表1～表3分别列出环境温度对半导体器件、电容器和电阻器可靠性的影响。表1和表13以pD/pR＝0.5使用负载设计，而表12则以UD/UR＝0.65使用负载设计。

表1环境温度对半导体器件可靠性的影响

由表1可知，当环境温度Ta从20℃新增到80℃时，半导体器件的失效率增大到30倍。

由表2可知，当环境温度Ta从20°C新增到80°C时，电容器的失效率增大到14倍。

表2环境温度对电容器可靠性的影响

从表3可知，当环境温度Ta从20℃新增到80℃时，电阻器的失效率增大到4倍。

表3环境温度对电阻器可靠性的影晌

2）负载率对元器件的影响

表4和表5分别列出了负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响。

由表4可知，当pD/pR＝0.8时，半导体器件的失效率是pD/pR＝0.2时的1000倍。

表4负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响（环境温度50°C）

从表5可知，当pD/pR＝0.8时，电阻器的失效率是pD/pR＝0.2时的8倍。

表5负载率对电阻器可靠性的影响

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