罗姆推出过零测试IC，开启家电电源的节能潜力

家电的功能和能耗永远是一对矛盾。要新增新功能，又不新增整体功耗负担，产品的电源部分就要面对巨大的压力。近日，罗姆公司推出了最新款的过零测试IC，将从一个全新的角度处理家电的功耗困境。

罗姆公司的电源产品线十分完整，蕴含了电源的pFC、二次侧的整流部分和DC/DC部分。罗姆半导体（北京）有限公司青岛分公司经理徐济炜表示：“高可靠性、高效率、低待机功耗一直是罗姆电源的开发方针和产品特点。通过垂直统合型加工体系，罗姆取得了很丰富的开发和实用成就。”

罗姆开发过零测试IC的目标是降低产品电源功耗，应对来自外部的三大挑战：一是随着物联网的普及和发展，Wi-Fi等通信功能在不断地普及。要保证通信功能的正常进行，家电要时刻保持通电状态，这无疑新增了家电的待机功耗。二是家电的显示器正在进行大型化、高性能化和多功能化的发展，要搭配一个高性能的微控制器，这也提升了家电的总体功耗。三是家电也要符合绿色可环保的要求。

为电源降低功耗，实际并不简单。传统的办法会针对AC/DC、DC/DC这些部分降低功耗，但是潜力已尽。徐济炜举了个例子，传统的电源转换这部分，功耗已经从3.6W降低到了1.7W左右，降幅达到50%，很难再有变化。依据欧盟在2013年颁布的0.5W待机功耗标准，即使将AC/DC和DC/DC功耗降低到0，也无法满足0.5W的标准。

不过，机会总是酷爱有心之人。“放眼整个电源部分，会发现电机输入电压测试电路和过零测试电路这部分十年来都没有改变，而且也没有同行业公司在做相关方面的工作。”徐济炜认为这就是罗姆发现的机会。

过零测试IC“BM1Z001FJ系列”专为降低白电的待机功耗所设计。其紧要特点为：待机功耗可以做到10mW，延迟时间可以控制到50s以内；同时，在电机使用的情况下，电机输入电压测试部分的待机功耗为0。

传统的电源拓扑中，采用了光耦的办法，会存在几个分明的问题：一是待机功耗过大，二是延迟时间比较大，三是光耦里的发光二极管会老化，最后影响到可靠性。使用了过零测试IC则完全处理了这些问题。

很紧要的一点，过零测试IC可以轻松替换掉往日的过零测试电路。据解析，罗姆已经推出了过零测试IC系列，既有适合一般整流的，也有适合倍压整流的。在输出这一块，既有支持脉冲触发的，也有支持边缘触发的。“所以无论原来的使用有哪些，都可以做轻松的替换。”徐济炜还特意强调：“传统的方式中，会对延迟做一个内部的软件解决，我们在使用IC的时候，也可以通过外部电阻去调整延迟时间，这样就保证了即使在软件不改的情况下，也可以做轻松的替换。”

当前，罗姆正在以过零测试IC为核心，通过在传统的AC/DC产品范畴积累的相关经验，面向白色家电市场开发出过零测试IC和AC/DC一体化的封装，进一步提高电源的功率密度，减小电源部分整体体积。

据悉，该产品已经在2020年三月份开始出售样品，六月份进入量产。目前已有日系的客户决定使用，国内的一些家电厂商也已经进入一个评估阶段。

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